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AEC-Q200產品測試,車規級認證：AEC-Q200檢測標準詳細規定了車內各種環境下被動元件的使用溫度范圍，對各類元器件的測試項目作了嚴格的區分，同時，對元器件通用系列的檢測適用性做了完善的規定。廣電計量可為客戶提供AEC-Q200 全項目檢測認證服務，出具具有公信力的AEC-Q檢測驗證報告，致力于提升客戶產品競爭力，快速進入供應商。

AEC-Q102產品試驗,車規級認證：車燈是整車的重要組件，圍繞車燈及其附件的可靠性試驗標準紛繁復雜，各主機廠的試驗標準均有不同描述，通用性較差。廣電計量提供一站式AEC-Q102產品試驗,光電器件車規級認證服務。

AEC-Q101認證試驗,車規級認證：廣電計量在SiC第三代半導體器件的AEC-Q認證上具有豐富的實戰經驗，為您提供專業可靠的AEC-Q101認證服務，同時，我們也開展了間歇工作壽命（IOL）、HAST、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮（Autoclave）試驗服務，設備能力全覆蓋以SiC為第三代半導體器件的可靠性試驗能力。

AEC-Q100認證試驗,車規級認證:廣電計量失效分析實驗室AEC-Q技術團隊，執行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認證試驗經驗，可為您提供更專業、更可靠的AEC-Q認證試驗服務。

集成電路工程化量產測試,元器件失效分析：集成電路工程化量產測試。集成電路測試卡位產業鏈關鍵節點，貫穿設計、制造、封裝測試以及應用的全過程。

超大規模集成電路動態老煉與測試失效分析：超?規模集成電路測試是確定或評估?規模集成電路的功能和電性能的過程，是驗證設計、監控?產、保證質量、分析失效以及指導應?的重要?段。

裝備定壽延壽失效分析專業檢測：廣電計量采用特定專業的檢測設備，采用加速試驗、?品分析、歷史數據收集等方式方法，輔以產品失效分析，即時發現貯存失效機理，并基于科學的概率數理統計理論，計算出產品的可靠性特征參數和壽命特征值分布曲線，確定裝備貯存壽命。

DPA破壞性物理元器件失效分析：廣電計量提供覆蓋被動元件、分立器件和集成電路在內的元器件破壞性物理分析(DPA)服務，其中針對先進半導體?藝，具備覆蓋7nm以下芯片DPA分析能?，將問題鎖定在具體芯片層或者μm范圍內，針對有水汽控制要求的宇航級空封器件，提供PPM級內部水汽成分分析，保證空封元器件特殊使用要求。