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服務區域 | 全國 | 服務資質 | CMA/CNAS |
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服務周期 | 2-3個月 | 服務費用 | 視具體項目而定 |
服務背景
AEC-Q101對對各類半導體分立器件的車用可靠性要求進行了梳理。AEC-Q101試驗不僅是對元器件可靠性的國際通用報告,更是打開車載供應鏈的敲門磚。 廣電計量AEC-Q101認證試驗,半導體器件檢測在SiC第三代半導體器件的AEC-Q認證上具有豐富的實戰經驗,為您提供專業可靠的AEC-Q101認證服務,同時,我們也開展了間歇工作壽命(IOL)、HAST、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮(Autoclave)試驗服務,設備能力覆蓋以SiC為第三代半導體器件的可靠性試驗能力。
序號 | 測試項目 | 縮寫 | 樣品數/批 | 批數 | 測試方法 |
1 | Pre- and Post-Stress Electrical and Photometric Test | TEST | 所有應力試驗前后均進行測試 | 用戶規范或供應商的標準規范 | |
2 | Pre-conditioning | PC | SMD產品在7、8、9和10試驗前預處理 | JESD22-A113 | |
3 | External Visual | EV | 每項試驗前后均進行測試 | JESD22-B101 | |
4 | Parametric Verification | PV | 25 | 3 Note A | 用戶規范 |
5 | High Temperature Reverse Bias | HTRB | 77 | 3 Note B | MIL-STD-750-1 M1038 Method A |
5a | AC blocking voltage | ACBV | 77 | 3 Note B | MIL-STD-750-1 M1040 Test Condition A |
5b | High Temperature Forward Bias | HTFB | 77 | 3 Note B | JESD22 A-108 |
5c | Steady State Operational | SSOP | 77 | 3 Note B | MIL-STD-750-1 M1038 Condition B(Zeners) |
6 | High Temperature Gate Bias | HTGB | 77 | 3 Note B | JESD22 A-108 |
7 | Temperature Cycling | TC | 77 | 3 Note B | JESD22 A-104 Appendix 6 |
7a | Temperature Cycling Hot Test | TCHT | 77 | 3 Note B | JESD22 A-104 Appendix 6 |
7a alt | TC Delamination Test | TCDT | 77 | 3 Note B | JESD22 A-104 Appendix 6 J-STD-035 |
7b | Wire Bond Integrity | WBI | 5 | 3 Note B | MIL-STD-750 Method 2037 |
8 | Unbiased Highly Accelerated Stress Test | UHAST | 77 | 3 Note B | JESD22 A-118 |
8 alt | Autoclave | AC | 77 | 3 Note B | JESD22 A-102 |
9 | Highly Accelerated Stress Test | HAST | 77 | 3 Note B | JESD22 A-110 |
9 alt | High Humidity High Temp. Reverse Bias | H3TRB | 77 | 3 Note B | JESD22 A-101 |
10 | Intermittent Operational Life | IOL | 77 | 3 Note B | MIL-STD-750 Method 1037 |
10 alt | Power and Temperature Cycle | PTC | 77 | 3 Note B | JESD22 A-105 |
11 | ESD Characterization | ESD | 30 HBM | 1 | AEC-Q101-001 |
30 CDM | 1 | AEC-Q101-005 | |||
12 | Destructive Physical Analysis | DPA | 2 | 1 NoteB | AEC-Q101-004 Section 4 |
13 | Physical Dimension | PD | 30 | 1 | JESD22 B-100 |
14 | Terminal Strength | TS | 30 | 1 | MIL-STD-750 Method 2036 |
15 | Resistance to Solvents | RTS | 30 | 1 | JESD22 B-107 |
16 | Constant Acceleration | CA | 30 | 1 | MIL-STD-750 Method 2006 |
17 | Vibration Variable Frequency | VVF | 項目16至19是密封包裝的順序測試。 (請參閱圖例頁面上的注釋H.) | JEDEC JESD22-B103 | |
18 | Mechanical Shock | MS | JEDEC JESD22-B104 | ||
19 | Hermeticity | HER | JESD22-A109 | ||
20 | Resistance to Solder Heat | RSH | 30 | 1 | JESD22 A-111 (SMD) B-106 (PTH) |
21 | Solderability | SD | 10 | 1 Note B | J-STD-002 JESD22B102 |
22 | Thermal Resistance | TR | 10 | 1 | JESD24-3,24-4,26-6視情況而定 |
23 | Wire Bond Strength | WBS | 最少5個器件的10條焊線 | 1 | MIL-STD-750 Method 2037 |
24 | Bond Shear | BS | 最少5個器件的10條焊線 | 1 | AEC-Q101-003 |
25 | Die Shear | DS | 5 | 1 | MIL-STD-750 |
Method 2017 | |||||
26 | Unclamped Inductive Switching | UIS | 5 | 1 | AEC-Q101-004 Section 2 |
27 | Dielectric Integrity | DI | 5 | 1 | AEC-Q101-004 Section 3 |
28 | Short Circuit Reliability Characterization | SCR | 10 | 3 Note B | AEC-Q101-006 |
29 | Lead Free | LF | AEC-Q005 |
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